VLSI Design and Test - 23rd International Symposium, VDAT 2019, Indore, India, July 4–6, 2019, Revised Selected Papers

von Springer Singapore
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Beschreibung

This book constitutes the refereed proceedings of the 23st International Symposium on VLSI Design and Test, VDAT 2019, held in Indore, India, in July 2019.



The 63 full papers were carefully reviewed and selected from 199 submissions. The papers are organized in topical sections named: analog and mixed signal design; computing architecture and security; hardware design and optimization; low power VLSI and memory design; device modelling; and hardware implementation.

Weitere Informationen

Anmerkung Illustrationen:
XVI, 775 p. 545 illus., 336 illus. in color.
Inhaltsverzeichnis:
Analog and Mixed Signal Design.- Computing Architecture and Security.- Hardware Design and Optimization.- Low Power VLSI and Memory Design. -Device Modelling.- Hardware Implementation.
Herausgeber:
Sengupta, Anirban;Sengupta
Dasgupta, Sudeb;Dasgupta
Singh, Virendra;Singh
Sharma, Rohit;Sharma
Kumar Vishvakarma, Santosh;Kumar Vishvakarma
Medientyp:
Taschenbuch
Verlag:
Springer Singapore
Sprache:
Englisch
Auflage:
1st ed. 2019
Seitenanzahl:
775

Stammdaten

Produkttyp:
Taschenbuch
Veröffentlichungsdatum:
18. August 2019
Verpackungsabmessungen:
0.237 x 0.158 x 0.041 m;
GTIN:
09789813297661
DUIN:
R9UF87I66M4
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